测量电介质中空间电荷陷阱能量的热刺激放电法与光刺激放电法比较
本文探讨了光刺激放电(PSD)电流谱与电晕充电试样电荷注入深度的关系,并通过热刺激放电(TSD)法与PSD法分别研究了典型聚合物LDPE(低密度聚乙烯),PI(聚酰亚胺)中空间电荷的陷阱能量。结果表明,随着聚合物熔融温度的升高,由TSD和PSD这两种方法表征的陷阱能量值更接近,但前者均小于后者。研究发现,在热刺激放电的加热过程中,由于分子链段以及主链的运动,导致了陷阱结构的极大破坏。因此,在测量电介质(尤其是低熔点聚合物)中空间电荷陷阱能量方面,PSD法是一种更为准确、合理的方法。
陷阱能量 电介质 空间电荷
朱智恩 张冶文 安振连 郑飞虎
同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092
国内会议
西安
中文
62-65
2011-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）