会议专题

大电流冲击老化对ZnO压敏陶瓷的影响

  本文采用商用ZnO压敏电阻片,对其进行大电流冲击老化,通过宽带介电谱、扫描电子显微镜(SEM)、等手段研究了ZnO压敏电阻片冲击老化前后的微观结构、介电性能的变化。

ZnO压敏陶瓷 冲击老化 几何效应 介电性能

李欢 李建英 赵学童 许学良

西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安 710049

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第十三届全国工程电介质学术会议

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2011-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)