基于双层薄膜失稳测量弹性模量技术的理论分析
近来,文献中提出了可以通过测量双层膜在软基底上失稳的失稳稳波长反演薄膜的弹性模量。本文采用理论分析和有限元模拟研究这项技术。我们的结果表明,当在双层膜系统施加水平压缩应变时,对于不同的压缩量、几何和材料参数,系统会产生不同的失稳模式。我们从能量角度对其中两种比较典型的模武进行了分析。对于中间层膜厚度远厚于顶层膜厚度的情形,给出了两种失稳模式发生的临界条件。本文的结果可能会为该薄膜测量技术的实际应用提供指导。
双层薄膜 失稳测量 弹性模量 临界条件 测量技术
贾飞 郑修鹏 曹艳平 冯西桥
清华大学航天航空学院,100084
国内会议
北京
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2011-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)