用透射电子显微镜和几何相位分析方法测定纳米尺度变形场

摘要：

　　高分辨透射电子显微镜已经成为测试精度最高的纳米尺度测量工具，目前常用的中等电压透射电子显微镜的分辨率可以达到0.1nm，为纳米尺度实验力学测试技术的发展提供了设备条件几何相位分析是一种基于透射电子显微镜的高精度纳米尺度实验力学分析方法，其测量灵敏度都能达到原子水平本文介绍使用透射电子显微镜作为测试工具，采用几何相位分析作为电子显微图像分析方法的纳米尺度变形场测试及应用成果。

关键词： 电子显微镜 几何相位分析 数值云纹 应变位错晶界 裂尖 异质结构

作者: 赵春旺

作者单位: 内蒙古工业大学,呼和浩特,010051

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科协第235次青年科学家论坛--极端复杂测试环境下实验力学的挑战与应对

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 118-121

在线出版日期: 2011-05-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）