数显卡尺测量不确定度分析

摘要：

　　在实际应用中出现的数显卡尺测量误差是由定栅误差和卡尺本身制造误差(零件的形状和位置误差)、使用引起的误差(测量力引起的误差、不准确的测量引起的误差)以及其它各种偶然原因导致的误差影响的。

关键词： 数显卡尺 测量不确定度 误差分析

作者: 王英

作者单位: 哈尔滨量具刃具集团有限责任公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届现代切削与测量工程国际会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 137-138

在线出版日期: 2010-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）