最坏情况电路分析技术在国内航天的研究状况及发展

摘要：

详细介绍了最坏情况电路分析技术在国内航天领域的研究状况,包括分析步骤及方法、极值数据库建立等,并阐述了在数字电路中的一般应用方法;最后介绍了该技术在国内航天应用中存在的问题及未来发展。

关键词： WCCA 国内航天 研究 发展

作者: 黄李 张亮

作者单位: 中国航天标准化研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届中国航天质量论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 214-218

在线出版日期: 2008-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）