掩孔干膜破裂的原因及控制

摘要：

本文概述了掩孔于膜破裂的主要影响因素并提出了有效控制的方法。

关键词： 掩孔干膜 破裂 控制

作者: 朱信英

作者单位: 中电十五所PCB中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国青年印制电路学术年会

会议地点: 常州

会议语种:中文

页码: 344-348

在线出版日期: 2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）