X射线图像缺陷提取方法研究

摘要：

缺陷检测是保证工件质量的重要技术，对减少或避免因缺陷引起的意外事故有积极的作用。X射线检测技术为缺陷检测提供科学、客观的依据，其中X射线图像的缺陷提取是检测技术的关键步骤。本文首先对X射线图像缺陷提取方法的研究现状进行了综述，然后结合作者的研究工作，介绍了两种缺陷提取方法：一是融合C-V模型和Facet模型的工业CT图像裂纹边缘检测方法，二是基于C-V模型的DR图像缺陷提取方法。

关键词： X射线图像 缺陷提取 C-V模型 Facet模型

作者: 曾理 刘玲慧 向才兵

作者单位: 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心 重庆 400044

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010年重庆市机械工程学会学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 126-129

在线出版日期: 2010-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）