混沌电路参数的选择优化

摘要：

本文通过测试蔡氏电路中关键元件的电压特性关系,给出了混沌电路稳定出现八倍周期分岔现象时电路对元件性能的要求,实验发现相移电容的电压稳定性是实验的关键。这是一个很好的研究性实验内容。

关键词： 混沌电路参数 独石电容 陶瓷电容 CBB电容 选择优化

作者: 王宇清 杨文明

作者单位: 上海交通大学 物理实验中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国高等学校物理实验教学研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 160-162

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）