电磁脉冲对可控硅的注入与辐照效应试验研究

摘要：

研究电磁脉冲对电路的注入与辐照效应，并探讨注入法与辐照法的相关性．以引信点火电路上的关键器件可控硅为研究对象，以方波脉冲为干扰源，进行了注入试验和辐照试验，比较了不同型号的可控硅、不同脉宽的脉冲的注入与辐照效应．结果表明，注入效应与脉宽有关，而辐照效应与脉冲的上升沿有关，而且不同型号可控硅的注入损伤排序与辐照干扰排序不同，此结果说明注入法与辐照法没有相关性．

关键词： 电磁脉冲 可控硅 辐照效应 注入试验

作者: 周星 张希军 魏明

作者单位: 军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北,石家庄 050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国物理学会第十五届静电学术会议

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 190-192

在线出版日期: 2009-08-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）