X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟

摘要：

X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。

关键词： X射线荧光分析 蒙特卡罗方法 MCNP程序 能谱分布

作者: 谈春明

作者单位: 清华大学,核能与新能源技术研究院,北京,100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届(2010年)北京核学会核技术应用学术交流会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 496-499

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）