一种新的产生可控长度测试码的BlST结构

摘要：

文中提出一种能屏蔽冗余测试码序列的新型BIST结构。通过重用并行数据端口控制可控长度计数器的计数值，进一步控制特征分析器的测试响应数据输入，从而达到屏蔽冗余序列，降低功耗的目的。仿真结果表明可以任意跳过冗余的测试序列.这种BIST结构已经应用于数字内插滤波器的测试，集成该数字内插滤波器的14位130MSPSD/A转换器芯片已经参加MPW流片，应用目标为移动通信领域。

关键词： BIST结构 可控长度计数器 测试图形 冗余测试 移动通信

作者: 尹勇生 高明伦 邓红辉 肖福明

作者单位: 合肥工业大学微电子设计研究所,安徽合肥,230009 合肥工业大学微电子设计研究所,安徽合肥,230009 南京大学微电子设计研究所,江苏南京,210093

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007中国计算机大会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 678-684

在线出版日期: 2007-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）