光学材料参数计量测试技术研究
随着光学材料技术的发展，对光学材料计量测试提出了新的更高的要求，光学材料参数计量测试面临新的挑战，常规条件下普通光学参数的计量测试已经满足不了需要，需要从紫外到红外全波段的计量测试。国防科技工业光学一级计量站多年来研制并建立了多台光学材料参数计量测试装置。本文介绍了光学一级计量站在光学材料方面所做的主要工作，分析光学材料计量测试的发展趋势和今后需要开展的研究工作。
光学材料 光学参数 计量测试
杨照金 王雷 侯西旗 解琪 杨冶平
中国兵器工业集团205所，西安市电子三路西段9号 西安123信箱，710065
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2010-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）