平面光学元件数字波面指标自动判读系统
在国标中，干涉图的判读按光圈(N)和局部光圈(AN)的指标来进行，而以数字波面干涉仪为主的现代测试仪器，则用波面的简单数字指标----峰谷值(PV)和均方根值（RMS）来表示。前者直观明了，适合于光学冷加工，并曾长期作为光学图纸的必要元素；而后者更适合光学零部件作为商品的交换之中，且测试结果的客观性强。这两类指标长期共存，既有密切的联系但又不能精确转换，给光学行业带来了困惑。
平面光学元件 自动判读系统 数字波面指标 干涉仪
王青 魏彩云
南京理工大学电光学院，南京 210094
国内会议
武汉
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2010-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）