新的激光脉冲表征体系和评价体系
在研究超快激光中，人们在过去常常把超快激光脉冲的半高全宽(FWHM)作为测量光脉冲宽度方法。半高全宽(FWHM)光脉冲表征体系具有原理简单，实现方便，容易掌握等优点。但是无法对不规则脉冲进行准确表征与描述。本文在分析半高全宽(FWHM)光脉冲表征体系不足的基础上，提出了基于统计学均方根的思想的新的均方根(RMS)光脉冲表征体系。此外，本文还提出了两种光脉冲评价体系，并以实际光脉冲为例对比了两种体系的优劣。提出的新的均方根(RMS)光脉冲表征体系和光脉冲的评价体系对于超快激光的研究工作有重要的意义。
光脉冲 半高全宽 均方根 表征体系 评价体系
孙新利 朱长军 杨永德
杭州电子科技大学电子信息学院,浙江 杭州 310018 西安工程大学理学院,陕西 西安 710048
国内会议
杭州
中文
32-37
2008-11-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）