基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究

摘要：

在现代集成电路测试中，漏电流是一项很重要的指标，基于漏电流故障的模型可以快速发现CMOS制造工艺的缺陷。木文首先介绍了漏电流故障模型的特点，阐述了基于漏电流故障模型对集成电路进行漏电流测试的测试原理、测试集生成及测试方法。在此基础上，系统研究了电路静态漏电流、输入漏电流、输出高阻漏电流的测试方法。

关键词： 漏电流故障模型 漏电流测试 集成电路 CMOS电路

作者: 王香芬 高成 付桂翠

作者单位: 北京航空航天大学工程系统工程系，北京，中国 100191

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 17-21

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）