基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析

摘要：

本文针对混合信号电路的静态测试问题基于V93000自动测试系统介绍了两种测试方法，分别针对于量产测试和验证性测试。分析并给出了如何利用这两种方法来测试高速模数转换芯片的静态参数。在针对验证性测试中分别利用了三角波信号和正弦波信号作为激励源。 采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静念参数。在V93000上通过以上办法测得芯片的各静态参数并进行对比分析，从而得到了较为精确的芯片的静态性能。

关键词： V93000自动测试系统 静态参数 直方图 模数转换芯片

作者: 高雅 刘亚洲

作者单位: 苏州中科集成电路设计中心，苏州 215021

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 22-26

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）