半导体集成电路(IC)测试技术实践

摘要：

本文介绍了半导体集成电路的基本测试技术要求，重点对军品要求的IC产品，从实践的角度说明了怎样获得按产品参数标准和实际应用进行测试的一些判定合格的方法，以确保IC在实际应用中的质量控制。

关键词： 半导体集成电路 测试技术 产品参数标准

作者: 王广武 黄晖

作者单位: 长沙韶光半导体有限公司，湖南，长沙501信箱，410129

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 47-51

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）