基于集成电路测试程序的软件测试研究

摘要：

本文通过研究集成电路测试程序开发和质量验证的发展历史，认为基于集成电路测试程序的软件测试和集成电路测试程序的质量验证基本相似。其目的都是为了提高软件质量和可靠性。只不过后者的实现方法具有一定的特殊性。并指出，在现行条件下，集成电路测试程序的软件测试，只要在质量验证的基础上，增加一点点程序模块，就能较好地完成对测试程序的全自动的软件测试。

关键词： 集成电路 测试程序 软件测试

作者: 杨志文 沈森祖 韩红星

作者单位: 武汉数字工程研究所，湖北，武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 65-66

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）