ASL3000RF校准方法研究

摘要：

集成电路测试系统的校准关系到集成电路测试结果的准确性和可靠性。本文简单介绍了ASL3000RF测试系统，重点论述了ASL3000RF模拟集成电路测试系统的校准原理、实施方法及校准结果判定等，为ASL系列集成电路测试系统校准技术的进一步研究奠定了基础。

关键词： ASL3000RF校准 集成电路 测试系统

作者: 章婷 韩红星 吴丹

作者单位: 武汉数字工程研究所，湖北，武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 86-88

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）