DSP在BXT2931半导体器件参数测试仪中的应用

摘要：

本文简要介绍DSP在BXT2931系列半导体参数测试仪的控制和微尺度器件参数分析方面的应用，包括DSP子系统硬件设计和控制软件设计，以及与GPIB的通讯。

关键词： DSP技术 半导体器件 参数测试仪

作者: 谭映 王洁 马金源 靳磊 许铭真 谭长华

作者单位: 北京大学 微电子研究院，北京 100871

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国信号处理与应用学术会议

会议地点: 南宁

会议语种:中文

页码: 350-352

在线出版日期: 2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）