塑料薄膜基上镀纳米SiOx涂层的表征及性能研究

摘要：

本文利用等离子体气相化学沉积(PECVD)的方法,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)和双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜上制备了纳米厚度的SiOx涂层，使用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、原子力显微镜(AFM)和超声原子力显微镜(UAFM)对纳米厚度的SiOx薄膜进行表征，利用AFM和UAFM,可以得到SiOx薄膜的形貌和超声幅值成像。尤其是本文使用的新方法UAFM,可以表征表面和次表面缺陷。同时,本文实验研究了,镀SiOx的PET和BOPP薄膜的拉伸性能、接触角和阻隔性.结果表明,SiOx涂层提高了塑料薄膜的阻隔性、拉伸性能。

关键词： 纳米氧化硅涂层 阻隔性 超卢原子力显微镜 塑料薄膜

作者: 张改梅 陈强 何存富 朱惠钦

作者单位: 北京印刷学院,印刷与包装工程学院,北京,102600;北京工业大学,北京,100124 北京印刷学院,印刷与包装工程学院,北京,102600 北京工业大学,北京,100124

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国印刷与包装学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 422

在线出版日期: 2010-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）