减少自反馈测试硬件代价的两种方法
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源，而不仅仅是被测试的对象．被测电路在由外部加载了初始向量后，可通过与电路输入相连接的一些内部节点，利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量．本文对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进，提出了一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法．对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明，本文方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率．
集成电路测试 测试向量 故障效率 自反馈测试 路径搜索
邝继顺 靳立运 王伟征 尤志强
湖南大学计算机与通信学院 长沙 410082 湖南大学软件学院 长沙 410082
国内会议
合肥
中文
58-64
2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）