容软错误的电路选择性加固技术

摘要：

针对纳米级工艺下瞬态故障引发的软错误可能造成电路失效这一问题，提出一种容软错误的电路加固方案．该方案面向软错误的两种诱因SEU与SET，构造容错时序单元RHBD-DFF，并在对电路中原始时序单元进行加固的同时，考虑到所带来的附加开销，提出了基于开销限制前提的选择性加固关键单元的策略，达到以低开销代价换取高容错性能的目的．

关键词： 容软错误 触发器 选择性加固技术

作者: 吴珍妮 梁华国 黄正峰 王俊 陈秀美 曹源

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥 230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届中国测试学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 258-262

在线出版日期: 2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）