基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案
随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,本方案进一步提高了压缩率.
测试数据压缩方案 幂次划分 无关位 动态赋值
徐三子 梁华国 顾婉玉 刘杰
合肥工业大学计算机与信息学院 合肥 230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009 阜阳师范学院物理与电子科学学院 阜阳 236041
国内会议
合肥
中文
325-328
2010-07-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)