片上SRAM内建自测试的实现方法

摘要：

存储器内建自测试(MBIST)技术是目前芯片嵌入式存储器测试的最通用方法．本文介绍了基于自编RTL和基于SynopsysRambist EDA技术的两种片上SRAM BIST电路方法．

关键词： 片上SRAM 内建自测试 嵌入式存储器 电路方法

作者: 马琪 裘燕锋

作者单位: 杭州电子科技大学微电子CAD研究所 杭州 310037

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届中国测试学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 340-343

在线出版日期: 2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）