一种基于全数字激励测试的Sigma-Delta调制器可测性设计方法
本文针对sigma-deIta调制器提出了一种可使用全数字激励的可测性设计(DFT)结构．在测试模式下，通过复用调制器自身的反馈DAC，利用数字位流信号即可快速准确的完成对调制器SNR，DR，THD等参数的测试．而无需提供高精度模拟测试激励．文中对与单环二阶sigma-delta调制器和2-1MASH调制器进行了DFT设计，在理想无干扰以及引入噪声等非理想参数的情况下，通过MATLAB Simulink行为仿真验证了这种结构的准确性及高效性．
Sigma-Delta调制器 可测性设计方案 多级噪声整形 行为仿真 全数字激励
王睿 冯建华 罗宏伟
北京大学微电子学系SOC测试中心 北京 100871 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级科技重点实验室 广州 510610
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371-375
2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）