SoC中混合信号测试与可测性设计研究

摘要：

SoC技术的迅速发展，对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求．本文分析了混合信号电路测试的各种问题，总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法,传统的模拟和混合信号电路的测试方法．着重讨论混合信号电路的可测性设计方法，说明各方法的基本原理，并对混合信号测试技术的发展作了展望．

关键词： SoC技术 混合信号测试 可测性设计

作者: 魏淑华 侯明金

作者单位: 北方工业大学信息工程学院微电子中心 北京 100041

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届中国测试学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 396-400

在线出版日期: 2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）