一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案

摘要：

提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案，它是在基于折叠计数器的基础上，采用LFSR编码折叠计数器种子，并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取，从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成．本方案不仅实现了测试数据的压缩，而且成功避开了冗余的无用向量，以达到减少大量的测试时间的目的．实验结果证明，建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率，而且能够非常有效地减少测试应用时间．

关键词： 内建自测试 折叠计数器 自选择状态 测试数据压缩

作者: 吴义成 梁华国 李松坤 黄正峰 易茂祥

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥 230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届中国测试学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 401-405

在线出版日期: 2010-07-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）