电子探针与微区X射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例

摘要：

本文通过电子探针分析仪和微区X射线衍射仪的联合应用，建立了在电子探针分析仪上通过背散射电子像亮度，Si、0能谱峰强度比鉴别疑似羟硅铍石的标志，快速确定衍射分析位置，进而利用微区X射线衍射仪在光片上进行原位无损分析，最终确定该矿床矿石中工业铍矿物以独立矿物羟硅铍石存在。

关键词： 电子探针 微区X射线衍射 羟硅铍石 矿石鉴定

作者: 葛祥坤 范光 夏晨光 艾永亮

作者单位: 核工业北京地质研究院,北京 100029

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国矿床会议

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 823-824

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）