128×128InSb红外焦平面阵列噪声温度特性分析
实验利用变温杜瓦装置改变128×128InSb阵列的工作温度，通过测试系统对其噪声进行采集。经过测试和分析，重点研究了InSb红外焦平面阵列的噪声与工作温度的关系，给出了阵列噪声与工作温度的关系曲线。研究表明，红外焦平面阵列的噪声随工作温度的升高而变大。当工作温度在77～107K时，噪声随温度增加趋势比较缓慢;当工作温度达到107K并继续升高时，红外焦平面阵列噪声急剧上升;当工作温度超过127 K时，阵列接近饱和。
噪声 温度特性 红外焦平面阵列
郭强 刘俊明 王巍
中国空空导弹研究院,河南 洛阳 471009
国内会议
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2010-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）