DD32单晶高温合金TLP连接接头组织分析
为了研究DD32单晶高温合金TLP连接接头组织及其变化规律,采用自制DOl中间层在1300℃分别保温4h、10h、15h工艺焊接试样,利用扫描电镜、能谱对接头组织形貌和成分进行分析.结果表明:保温时间较短时,连接区域由接头中心快速凝固区、两侧等温凝固区和基体区组成;延长保温时间,接头中心快速凝固区变窄,直到消失,连接区组织与基体相同;保温时间过长,基体材料的γ’相长大.
DD32单晶高温合金 TLP连接 保温时间 接头组织
侯金保 吴松 郎波
北京航空制造工程研究所,北京 100024
国内会议
郑州
中文
29-32
2009-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)