会议专题

基于扫描电子显微镜的一维纳米材料场发射性能的原位测量

本文工作利用扫描电子显微镜(SEM)中的纳米探针技术实现对CNT和Zn0纳米线进行纳米级的精细操纵,方便地从纳米材料阵列样品中获取单根一维纳米结构,从而精确地控制距离测量场发射特性,另外利用SEM可以原位观察场发射测量中样品形貌的变化。本文实验中以钨针尖为阳极,一维纳米材料为发射阴极,借助KEITHLEY 4200在针尖与样品之间施加电场来引起场发射,测量场发射I-V数据。

扫描电子显微镜 一维纳米材料 场发射性能 原位测量

赖嘉霖 刘钊 李成垚 肖竞 高曼 张耿民

北京大学电子学系,物理电子学研究所,北京 100871

国内会议

2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会

杭州

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2010-10-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)