Bi4 Ti3 O12基铁电单晶中畴结构的透射电镜研究

摘要：

本文研究的Bi4Ti3012基铁电单晶是用高温溶液法生长的。为减薄制备透射电镜样品，沿b(α) -c面切割单晶，经机械磨抛，凹坑，最后离子减薄。TEM观察在FEI Tecnai G20型透射电镜上进行，加速电压200 kV。

关键词： 铁电单晶 畴结构 透射电镜

作者: 叶万能 卢朝靖

作者单位: 青岛大学纤维新材料与现代纺织国家重点实验室培育基地,山东 青岛 266071

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 52-53

在线出版日期: 2010-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）