晶粒尺寸对织构测试的影响与大晶粒薄带材样品的织构测试

摘要：

本文通过比较不同晶粒尺寸立方系样品的极图测试结果分析了样品晶粒尺寸对极图测试的影响。当样品晶粒细小时可以用常规方法进行织构测试;对较大晶粒样品当测试谱线失去了对称性时或晶粒尺寸更大时，无法采用常规方式测试。对于因晶粒较大而无法采用常规织构测试的薄带材样品，通过从样品侧面测得不完全极图并经过ODF转换计算的方法可以得到样品的织构，结果表明这种方法可以较好的解决大晶粒薄带材样品的织构测试问题。

关键词： 极图测试 取向分布函数 薄带材 X射线衍射 晶粒尺寸 织构测试

作者: 王颖 胡小军

作者单位: 北京北冶功能材料有限公司,北京 100192

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年全国精密合金技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 103-107

在线出版日期: 2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）