面向起伏地表偏移成像的表层静校正方法
静校正量可以分为高频校正量与低频校正量。在缺乏精确的全深度速度模型的前提下，为了进行起伏地表偏移成像，需要首先确定一平滑起伏基准面进行表层高频量校正，再进行自起伏基准面的速度分析与偏移成像。为此本文提出了基于层析模型的表层高频校正量提取方法及相应的平滑基准面确定方法。提出的方法在理论模型与实际资料中与传统方法进行了对比，证实高频静校正+起伏基准面偏移成像可以取得较好的效果。
静校正方法 基准面 层析成像 偏移成像
刘玉柱 程玖兵 董良国
同济大学海洋与地球科学学院反射地震课题组,上海,200092
国内会议
郑州
中文
137-142
2010-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）