热电离质谱法同位素质量分馏效应校正技术

摘要：

分析了热电离质谱法测量同位素丰度比值的质量分馏效应的五种校正技术,即理论校正法、内标法、标准校正法、全蒸发技术和同位素稀释质谱法.在实验上用标准校正法和全蒸发技术分别对钚样品的同位素丰度比值进行了测量,结果表明应用这两种技术都可实现钚同位素丰度的准确测量.此外,用同位素稀释质谱法准确测量了锂同位素丰度比值,并对其可靠性用用欧共体的锂同位素标准物质进行验证.

关键词： 热电离质谱法 同位素丰度 质量分馏效应

作者: 魏兴俭 邓大超 余春荣 袁莉

作者单位: 中国工程物理研究院,四川绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会2009年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 2119-2126

在线出版日期: 2009-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）