SmFeAsO1-xFx材料的正电子研究
首次用正电子湮没技术研究了新的铁基高温超导体SmFeAsO1-xFx,测量了SmFeAsO1-xFx 的常温正电子寿命谱以及随温度变化的多普勒展宽谱,并在广义梯度近似(GGA)基础上进行了正电子寿命计算,寿命测量值与理论计算值较吻合;母体样品的多普勒展宽S 参数在相变附近呈现出一个跳跃,而超导样品则在超导相和正常相呈现出不同的S-T 斜率,S-W 曲线的线性表明超导转变并没有引起缺陷类型的改变.
高温超导 正电子寿命 多普勒展宽
郝颖萍 陈祥磊 成斌 许红霞 韩荣典 翁惠民 杜淮江 叶邦角
中国科学技术大学近代物理系核固体物理实验室,安徽合肥 230036
国内会议
北京
中文
2695-2698
2009-11-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)