碳化硼中硼同位素丰度的质谱测量

摘要：

介绍了通过对涂样技术、升温程序、氧同位素干扰等问题的研究与改进,达到了对固态B4C 样品进行热电离质谱测量的技术要求,该方法简化了样品化学前处理流程,缩短了测量时间,测量结果满足工程应用要求.

关键词： 碳化硼 硼同位素丰度 质谱测量

作者: 杨彬 邓辉 梁帮宏 张舸

作者单位: 中国核动力院研究设计院,四川成都 610005

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会2009年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 3167-3173

在线出版日期: 2009-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）