ICP-OES法测定U3Si2中硼等8种杂质元素

摘要：

建立了电感耦合高频等离子体直读发射光谱法(ICP-OES)同时测定U3Si2 中硼等8 种杂质元素的新方法.研究了仪器的工作条件,确定了仪器的分析线、检出限及检出下限及残留物对待测元素的影响;用标准加入法验证了方法的准确性及精密度.结果表明:分析数据与标准值吻合,方法回收率在89.6％～103.2％, RSD 不超过7％.方法准确可靠,可以用于U3Si2 中B等8 种杂质元素的测定.

关键词： ICP-OES法 铀三硅二 杂质元素

作者: 焦炎 李宝权

作者单位: 中核陕西铀浓缩有限公司,陕西汉中 723312

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会2009年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 3197-3201

在线出版日期: 2009-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）