厚的连续闪烁体Gamma成像系统的MLEM重建模拟研究
现有的各种gamma成像系统多采用晶体条阵列成像技术,其固有的光收集方式固然能一定程度上提高其垂直于入射方向上的位置分辨,但也带来了严重的DOI(Depth of Interaction)效应,严重降低了其水平位置的分辨.而采用连续晶体的gamma成像系统由于其制作、封装方法简单,重建方法日益成熟,尤其是其DOI 效应在采用合适的重建程序的时候可以被大幅度抑制,正在被采用在gamma成像装置中.其三维重建算法的研究就显得尤为重要.一块厚25mm 的NaI(Tl)晶体和H8500 位置灵敏光电倍增管被使用在实验室小型gamma 相机的前期模拟工作中.DETECT2000 这款蒙卡软件被用来计算传输矩阵以及模拟最后的探测器输出.不同入射方向,入射深度以及入射水平位置的事例被重建.结果显示,在晶体中心区域,三维位置分辨最好,在偏离中心的晶体六个表面位置上的位置分辨变差明显,这一结果与事实相同,主要的原因应是由各表面的漫散射造成在边缘的位置信息被模糊.模拟工作验证了MLEM 方法可以被应用在连续晶体闪烁事件三维位置重建中,证实了连续晶体在入射深度重建方面的优越性,进一步的实验工作将与模拟工作相结合以调整参数向实验结果靠拢.
连续晶体 三维重建 gamma成像 蒙卡模拟
段琛 孔伟 叶邦角 曹童童 韩荣典
中国科学技术大学,安徽合肥 230026
国内会议
北京
中文
3695-3702
2009-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）