γ射线康普顿背散射测厚技术研究
在工业应用的现场中,许多场合是要求放射源和探测器位于一侧的,如测量生产线上的管材、钢板和射线不能穿透的大型被检对象等.不同于透射式测量,康普顿散射中源和检测器是布置于工件同一侧的,康普顿背散射测厚技术的研究对解决这些特定场合的问题就尤为重要.文中提出了一种新型的探测器和放射源的布置方式.使用MCNP4 程序对该种结构的几个关键因素进行了模拟.经过物理试验对蒙特卡罗计算的结果进行验证.物理实验与蒙特卡罗计算的结果基本一致:准直孔径越大,探测器接收到的计数率也越大,线性范围也越小;对于有机玻璃片,5～8mm为最佳的探头与被测物距离;不同的被测厚度都对应着不同的测厚距离和准直孔尺寸.这些结论对γ射线康普顿背散射测厚仪研制提供良好的技术基础,对实际应用有很大的指导作用.
蒙特卡罗 康普顿背散射 测厚技术 线性范围
陈欣南 王国保 陈雁南
中国原子能科学研究院,北京 102413
国内会议
北京
中文
4659-4667
2009-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）