垂直式HVPE系统制备GaN的数值模拟及优化

基于流体动力学原理对自行研制的垂直式HVPE系统制备GaN的表面沉积率进行了三维数值模拟。研究表明反应物的出气方式是GaN沉积率均匀性差的根本原因,并对反应室的出气口结构进行了改进。结果表明,在衬底上方合适的位置增加多路对称的Ga源管道可以使GaCl在衬底上方的分布比较均匀,改变了GaN沉积率中间过高而边缘过低的现象,提高了GaN表面沉积率大小的均匀性,为进一步优化反应室结构提供了依据。
HVPE CFD GaN表面沉积率 管道优化
焦艳东 翟静会 万尾甜 张辉 薛晶晶 郝秋艳
河北工业大学理学院,300130
国内会议
南宁
中文
204-206
2010-11-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)