集成电路连接测试失效原因探讨

摘要：

本文对集成电路连接性测试的失效现象进行了描述，对连接测试失效的原因进行了探讨,指出导致连接性失效的多种可能原因。

关键词： CMOS集成电路 连接测试 失效原因

作者: 李兴鸿 赵俊萍 李鑫 赵春荣 林建京

作者单位: 北京微电子技术研究所 100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 114-117

在线出版日期: 2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）