基于遗传算法改进GM(1，1)模型的元器件非工作可靠性参数预测

摘要：

针对灰色预测GM(1，1)模型的缺点，本文引入遗传算法改进的灰色模型，并利用其对某集成运放的非工作可靠性参数进行预测。实例计算表明，遗传算法优化的GM(1，1)，模型预测精度有所提高，验证了该方法具有正确性与有效性。

关键词： 非工作可靠性 GM(1，1)模型 遗传算法

作者: 杨少华

作者单位: 工业信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广州 510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 126-129

在线出版日期: 2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）