电源模块中关键器件的加速寿命试验

摘要：

使用印刷电路板仿制电源模块的电路，保证电路中的关键器件在实际的工作条件下被单独施加序进的温度应力，进行以电学参数退化为基础的加速寿命试验。克服了不能对电源模块中的关键器件施加较高温度应力进行加速寿命试验的困难。试验获得电源模块中关键器件VDMOS、SBD的失效敏感参数分别为跨导Gm、反向漏电流Ir;其失效激活能分别为：0.89eV、0.55eV;VDMOS的平均寿命t=3.8×108小时;SBD的平均寿命t=2.7×107小时。

关键词： 电源模块 加速寿命试验 可靠性

作者: 吕长志 马卫东 黄春益 张小玲 谢雪松 王东凤 李志国

作者单位: 北京工业大学 电子信息与控制工程学院 微电子可靠性研究室 100124

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 150-153

在线出版日期: 2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）