宇航级瓷介电容器极限寿命研究

摘要：

应用加速寿命试验方法研究宇航级瓷介电容器极限寿命，减少了试验的次数和投试的样本量，大大缩短试验的时间和降低试验的费用，可对产品的可靠性水平快速作出评价。评价我国宇航级瓷介电容器的寿命水平，为宇航等有高可靠要求的应用领域提供选型参考，也为其他宇航级元器件长寿命的可靠性试验方法和失效率等级评估提供参考。

关键词： 宇航级瓷介电容器 失效率 加速寿命试验 使用寿命

作者: 赵宇萍 魏建中

作者单位: 工业和信息化部电子第五研究所,广东 广州 510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 172-175

在线出版日期: 2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）