数字信号处理器测试过程中若干问题的探讨

摘要：

根据DSP芯片测试程序开发的相关要求,提出测试方与设计方的接口,以满足通用DSP测试开发所经历的各个环节。针对数字信号处理器测试过程中所遇到的测试问题进行了探讨，并给出了解决方案。

关键词： 数字信号处理器 测试问题 程序开发

作者: 唐锐 黄波 王晓晗 魏建中

作者单位: 工业和信息化部电子第五研究所 广州 510610 中国国防科技信息中心 北京 100142

会议类型: 国内会议

会议名称: 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 375-383

在线出版日期: 2010-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）