电负荷历史对ZnO压敏电阻电容量测试结果的影响

摘要：

实验研究了ZnO压敏电阻经受电负荷后电容量变化特性。ZnO压敏陶瓷承受电负荷时材料内部界面态俘获电子导致受主表面态密度增加，撤去负荷后界面陷阱态会逐步释放施加负荷时俘获的电子，使得界面态密度最终达到施加负荷前的平衡状态。

关键词： ZnO压敏电阻 电容量 电负荷历史

作者: 卢振亚 邱培 周紫阳

作者单位: 华南理工大学电子材料科学与工程系 广州 510640

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第十七届学术年会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 68-72

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）