一种基于ARM Cortex微控制器的相位差检测方法

摘要：

本文针对周期信号之间的小相位差难以检测的问题，提出了一种基于ARM Cortex高性能微控制器，采用相位差放大处理技术的相位差检测方法，系统简单，并做了测试，信号在1kHz时精度能达到2％。

关键词： 相位差 微控制器 放大处理

作者: 刘世国 彭春荣

作者单位: 中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室北方基地 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电路与系统学会第二十二届年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 139-143

在线出版日期: 2010-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）